非侵入式脑刺激副作用量表NIBS-SES开发

2026年11月5日，Brain Stimulation（In Press）刊出研究团队的一手报道，称其开发了非侵入式脑刺激副作用量表（NIBS-SES），这是一份可重复评估不良反应的简版多语言问卷，覆盖经颅磁刺激（TMS）、经颅电刺激（tES）和经颅超声刺激（tUS）三类刺激。报道指出，现有神经调控不良反应监测多依赖非标准化或耗时工具，难以在刺激方式内部及不同刺激方式之间比较耐受性，NIBS-SES 即针对这一问题设计。目前该量表处于论文在刊（In Press）阶段，报道未提及量表的具体条目、验证结果或临床应用情况。

AI 根据报道生成 · 2 小时前更新

还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。