Brain Stimulation（In Press）· Benjamin Selaskowski, Celine Koelsch, Chris Baeken, Daniel M. Blumberger, André R. Brunoni, René Hurlemann, Garikoitz Lerma-Usabiaga, Yoshihiro Noda, Pedro M. Paz-Alonso, Casto Rivadulla, Junfeng Sun, Ganesan Venkatasubramanian, Alexander T. Sack, Simone Rossi, Antoni Valero-Cabré, Maximilian Kiebs·· 13 小时前AI 评分38
Brain Stimulation：NIBS-SES 多语言简版问卷用于监测 TMS、tES 与 tUS 不良反应
The Non-Invasive Brain Stimulation Side Effect Scale (NIBS-SES): development of a brief, multilingual questionnaire for monitoring adverse effects in transcranial magnetic, electrical and ultrasound stimulation
AI 导读
研究团队开发了非侵入式脑刺激副作用量表（NIBS-SES），一份可重复评估不良反应的简版多语言问卷，覆盖 TMS、tES 和 tUS 三类刺激。现有神经调控不良反应监测多依赖非标准化或耗时工具，难以在刺激方式内部及之间比较耐受性。
AI 要点
团队
Benjamin Selaskowski、Maximilian Kiebs 等，联合 Chris Baeken、Daniel M. Blumberger、André R. Brunoni 等多国作者。
主要结果
开发出 NIBS-SES，一份简短、多语言的问卷，用于重复评估 TMS、tES、tUS 的不良反应。
解决什么问题
现有不良反应监测多依赖非标准化或耗时的工具，难以在 TMS、tES、tUS 内部及之间比较耐受性。
方法
以问卷形式构建，覆盖经颅磁刺激、经颅电刺激和经颅超声刺激三类非侵入性神经调控。
局限
从研究设计看，本文为量表开发，原文未提及信效度验证结果与样本量。
AI 依据原文整理，未经人工核对。
来源：Brain Stimulation（In Press） · brainstimjrnl.com